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XRD可以用于定量分析哪些内容

发布人:中科百测 发布时间:2022-02-17 11:24:36

  X射线衍射仪是当今世界上最先进的X射线衍射仪系统,它设计精密,硬件软件功能齐全,能灵活地适应粉末,薄膜及完全晶体的各种微观结构测定,分析和研究任务。步进马达加光学编码器确保测角仪快速而准确定位,入射及衍射光路的各种附件均安装在高精度导轨上。同时配置有高温样台:试样所处高真空石墨罩,真空度达到2*10-3Mpa,试样最高可加热温度为1100℃。小角衍射最小角可以达到0.4度,主要测量介孔材料和其他高分子复合材料。广角衍射:最低角度可以达到5度,可以精确接收到小于10度的衍射峰。


  可以用XRD定量分析哪些内容


  A.样品的平均晶粒尺寸,基本原理:当X射线入射到小晶体时,其衍射线条将变得弥散而宽化,晶体的晶粒越小,x射线衍射谱带的宽化程度就越大。因此晶粒尺寸与XRD谱图半峰宽之间存在一定的关系,即谢乐公式(Scherrerequation),下期会详细分析其原理与注意事项。


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  对于对于负载型催化剂表面的金属颗粒,其颗粒大小d(单位nm)与其分散度D之间可以简单地换算:d≈ 0.9/D(注:0.9这个常数是经验值)。


  B.样品的相对结晶度:一般将最强衍射峰积分所得的面积(As)当作计算结晶度的指标,与标准物质积分所得面积(Ag)进行比较,结晶度=As/Ag*100%。


  C.物相含量的定量分析:主要有K值法也叫RIR方法和Rietveld全谱精修定量等。其中,RIR法的基本原理为1:1混合的某物质与刚玉(Al2O3),其最强衍射峰的积分强度会有一个比值,该比值为RIR值。通过将该物质的积分强度/RIR值总是可以换算成Al2O3的积分强度。对于一个混合物而言,物质中所有组分都按这种方法进行换算,最后可以通过归一法得到某一特定组分的百分含量。


  D.XRD还可以用于点阵常数的精密计算,残余应力计算等。

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