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SIMS测试（北京）

价格：¥1500

仪器安装地址：北京检测中心

检测能力：检测周期正常，数据质量正常

检测周期：5 工作日

项目好评率：100.00%

平均完成周期：4 工作日

服务次数：535 次

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项目介绍

飞行时间二次离子质谱 IONTOF 5（德国）

技术参数

20kV C60 脉冲溅射离子枪
铯溅射离子枪
氩气/氧气溅射离子枪
GCIB团簇离子枪
样品传送管

应用范围

飞行时间二次离子质谱技术（Time of Flight Secondary Ion Mass Spectrometry，TOF-SIMS）是一种非常灵敏的表面分析技术，一束高能初级离子轰击样品表面激发出原子和分子碎片，一小部分激发出的粒子以离子的状态离开表面，被质量分析器探测出来，具有极高分辨率的测量技术。对于不同的材料，检测的含量不同，对于无机材料, 原子离子百分含量> 10%，对于有机材料，原子和分子离子碎片百分含量可以从0.001% 到 1%，仅从表面2个分子层激发出的粒子可以以离子态离开表面。

实际应用