一、产品简介
同步辐射X-射线吸收谱精细结构（XAFS）是一种强大的分析技术，用于研究材料的局部结构和化学状态。XAFS通过测量X射线在材料中的吸收边缘附近的精细结构，提供有关原子周围环境的信息。
XAFS可以分为三个部分，边前区（Pre-edge）、近边区（XANES）和扩展边（EXAFS）。XANES可以得到吸收原子的电子结构，包括价态，对称性，轨道占据等信息；EXAFS可以得到吸收原子周围配位信息，包括配位原子种类，键长，配位数，无序度等信息，是研究原子配位环境的重要分析手段。
二、设备信息
目前可测试光源：上海光源、合肥光源、北京光源、台湾光源、日本光源、欧洲光源、北美光源等。
三、送样要求
1、粉末样品最好过200目，无明显颗粒感，至少50mg以上，准备70-100mg比较合适；
2、块状/薄膜样品要求长宽≥8mm，10*10mm左右比较合适，样品厚度和材料相关，薄膜正常没问题，块体的话看看什么样品情况了解一下，具体请咨询测试老师；
3、液体5ml以上，浓度尽量在0.25mol/ml以上，浓度越高越好。
4、薄膜/块体/液体大概率要用荧光模式测试；
5、软X射线一般用于测非金属元素的吸收边（XANES），因此无标样数据，需要和资料文献比对分析化学态变化及归属；另外，软线是在高真空下测试，样品在超高真空及在X射线下应稳定，不分解、不释放气体，含水，含油等粘性以及液体样品无法测试，且对含量要求较高，为保证测试效果，待测元素质量百分比最好大于5%；
6、台式同步辐射：待测元素含量一般要求＞1%，最好在5%以上，越高越好，需评估后测试。
四、案例展示
五、应用领域
1. 材料科学
催化剂研究：
分析催化剂的活性中心结构（如金属纳米颗粒、单原子催化剂）。
研究催化反应过程中活性位点的动态变化。
电池材料：
研究锂离子电池、钠离子电池等电极材料的局域结构和电子态。
分析充放电过程中材料的相变和结构演化。
纳米材料：
表征纳米颗粒的尺寸、形状和表面化学状态。
研究纳米材料的合成机制和生长过程。
2. 化学
配位化学：
研究配合物的局域结构和键合特性。
分析配体对金属中心电子态的影响。
反应机理：
揭示化学反应中中间体的结构和电子态变化。
研究光催化、电催化等反应的动态过程。
3. 环境科学
污染物分析：
研究重金属（如砷、铅、汞）在环境中的化学形态和迁移转化。
分析土壤、水体中污染物的吸附和解吸行为。
环境修复：
研究纳米材料在环境修复中的应用机制（如吸附、催化降解）。
4. 地球科学
矿物学：
研究矿物的局域结构和化学键特性。
分析矿物中微量元素的赋存状态。
地球化学：
研究地球内部物质的相变和化学反应。
分析陨石、月岩等 extraterrestrial 材料的结构和组成。
5. 生物学
金属蛋白质：
研究金属蛋白质中金属中心的局域结构和电子态。
分析金属离子在生物过程中的作用机制。
药物设计：
研究金属药物与生物分子的相互作用。
分析药物在体内的代谢过程。
6. 能源材料
太阳能电池：
研究钙钛矿太阳能电池中金属离子的局域结构和电子态。
分析光电转换过程中的结构变化。
燃料电池：
研究燃料电池催化剂的结构和性能关系。
分析催化剂在反应中的动态变化。
7. 考古与文化遗产
文物分析：
研究古代金属器物的制作工艺和腐蚀机制。
分析颜料、陶瓷等文化遗产材料的结构和组成。
六、常见问题
1、软线、中能、硬线常规、高能是怎么区分的？如何查看待测元素的吸收边能量大小？
1）根据能量区分，大概范围如下所示：
软X射线：能量范围在50eV~2000eV，可测元素包括B、C、N、O、F、Na、Mg、Al、Si的K吸收边，Cl、K、Ca、Sc、Ti、V、Cr、Mn、Fe、Co、Ni、Cu、Zn、Ga、Ge、As、Se、Br、Rb、Sr、Y的L3吸收边（只测近边）
中能X射线：能量范围在1700eV~5800eV，可测元素包括Si、P、S、Cl、K、Ca、Sc、Ti、V的K吸收边，Rb、Sr、Y、Zr、Nb、Mo、Tc、Ru、Rh、Pd、Ag、Cd、In、Sn、Sb、Te、I、Cs、Ba、La、Ce的L3吸收边（只测近边）
硬X射线（常规）：能量范围在4000eV~23000eV，可测元素包括Ca、Sc、Ti、V、Cr、Mn、Fe、Co、Ni、Cu、Zn、Ga、Ge、As、Se、Br、Rb、Sr、Y、Zr、Nb、Mo、Tc、Ru的K吸收边，Sb、Te、I、Ce、Ba、La、Ce、Pr、Nb、Pm、Sm、Eu、Gd、Tb、Dy、Ho、Er、Yb、Lu、Hf、Ta、W、Re、Os、Tr、Pb、Bi、Po、At、Fr、Ra、Ac、Th、Pa、U、Np、Pu、Am、Cm、Cm、Bk、Cf、Es、Fm、Md、No、Lr的L3吸收边
硬X射线（高能）：能量范围在20000eV~40000eV，可测元素包括Tc、Ru、Rh、Pd、Ag、Cd、In、Sn、Sb、Te、I、Cs、Ba、La的K吸收边
2）使用Demeter软件中的Hephaestus软件，选择待测元素，即可查看对应吸收边的能量大小；
其中，低于2kev为软X射线，4k-20keV为硬X射线，20kev以上为高能。
2、拿到什么样的测试结果？
通常数据以txt格式发送，txt格式可直接用Athena软件打开，打开可以查看其E、k、R、q空间谱图，如需进一步拟合，则需要单独预约“同步辐射数据分析”。
3、同步辐射软线能测扩展边吗？
同步辐射软线主要用于探测表面性质，类似于XPS。对于原子序数较小的非金属元素，如C、N、O等，由于其激发后能量较低，软线可以获取的数据点较少，因此无法进行EXAFS（扩展边吸收结构）的傅里叶转换和计算。所以，软线通常用于测量近边数据，而不是扩展边数据。
4、通过硬线测金属的K边和软线测L边得到的信息有什么区别？
硬线K边是可以得到扩展边，有扩展边才能分析配位这些信息，软线的话只能得到近边数据，近边只能判断价态，没法分析出来配位信息，另外，硬线还是软线看的是能量，不是看的测哪个边，因为有些元素测L边也是硬线的，比如Pt就是测的L边。
5、测试结果曲线毛刺、跳边不明显、信噪比差可能是什么原因？
数据质量一般，是由于元素含量较低，或其他元素组分干扰造成的，又或者是样品本身内部结构复杂引起的。